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表面分析儀器

表面分析技術(shù)利用包括透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、電子探針、X射線(xiàn)光電子能譜、俄歇電子能譜、二次離子質(zhì)譜、場(chǎng)離子顯微鏡與原子探針、掃描隧道電子顯微鏡、原子力顯微鏡、掠入射X射線(xiàn)衍射等分析手段得到物質(zhì)表面成分、表面結構、表面電子態(tài)及表面物理化學(xué)過(guò)程等信息。憑借我們多年的專(zhuān)業(yè)知識和經(jīng)驗,我們?yōu)楹娇?、汽?chē)、材料、電子、化學(xué)、生物、地質(zhì)學(xué)、醫學(xué)、冶金、機械加工、半導體制造、陶瓷品等行業(yè)提供可靠且靈活的儀器配置方案,可以幫助您從事最高效的研究活動(dòng)。

光學(xué)(數碼)顯微鏡

常用的顯微鏡有雙目連續變倍體視顯微鏡、金相顯微鏡、偏光顯微鏡、紫外熒光顯微鏡等。雙目體視顯微鏡在生物、醫學(xué)領(lǐng)域廣泛用于切片操...

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掃描和透射電鏡

電子顯微鏡是目前材料研究不可或缺的研究手段,包括透射/掃描電子顯微鏡 (TEM/SEM)、聚焦離子束 (FIB) 系統,或者...

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電子探針(EPMA)

電子探針(EPMA)可以對試樣中微小區域(微米級)的化學(xué)組成進(jìn)行定性或定量分析,可以進(jìn)行點(diǎn)、線(xiàn)掃描(得到層成分分布信息)、面...

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原子力顯微鏡

掃描探針(原子力)顯微鏡不僅可以得到高分辨率的表面成像,而且可以成三維的樣品表面圖像,還可對材料的各種不同性質(zhì)進(jìn)行研究。SP...

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輝光光譜和質(zhì)譜系統

輝光光譜和質(zhì)譜儀主要應用于痕量到常量范圍內元素的固體形式的直接分析和深度分布分析。整個(gè)周期表內的元素均可檢測分析,分析對象可...

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XPS、AES、SIMS

X射線(xiàn)光電子能譜儀(X-ray Photoelectron Spectrograph)用于固體樣品的表面組成分析、化學(xué)狀態(tài)分...

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