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薄膜分析

中禹聯(lián)重檢測技術(shù)中心隸屬于上海禹重實(shí)業(yè)有限公司,作為面向21世紀專(zhuān)業(yè)的材料分析服務(wù)機構,為各行業(yè)及終端用戶(hù)提供高價(jià)值專(zhuān)業(yè)分析和測試咨詢(xún)服務(wù),以及第三方的產(chǎn)品驗證。在冶金、建筑、礦山、地質(zhì)、環(huán)境、機械、化工、電子電氣、石油、生物、制藥、醫療、紡織、食品和農業(yè)等眾多領(lǐng)域,我們與瑞士通標(SGS)、美國EAG、上海材料研究所測試中心和鋼研檢測中心等權威檢測單位開(kāi)展廣泛而持久的合作關(guān)系。

UZonglab是您在新產(chǎn)品新材料開(kāi)發(fā)、制程監控、品質(zhì)控制、失效分析中不可缺少的合作伙伴。禹重科技的材料分析專(zhuān)家具有廣泛的專(zhuān)業(yè)知識,讓客戶(hù)能夠充分理解現有分析技術(shù)的范圍,以及性能極限。您完全可以相信我們的技術(shù)并幫助您改善產(chǎn)品的性能、提升成品良率、縮短研發(fā)時(shí)間、降低生產(chǎn)成本、解決問(wèn)題達到預期的效果。

薄膜分析
薄膜分析涵蓋了各種可能出現的情況,這將會(huì )強烈地影響到分析技術(shù)的選擇:

  • 薄膜厚度范圍可以從幾 ?(10-10m)到 μm(10-6m)范圍,最高能達到 mm(10-3m)。
  • 因為技術(shù)的不同,測量的靈敏度也會(huì )有所不同,范圍從at%到ppb。
  • 橫向分析區域的大小可能是無(wú)限,或者也可能會(huì )受到非常大的限制。

一般情況下,可以使用兩種方法來(lái)分析薄膜:垂直方向,從上往下或從底向上;或水平方向的橫截面。
在表面由頂往下的分析會(huì )提供粗糙度、形態(tài)、表面成分和污染物信息。隨后濺射可以發(fā)現更多的信息,例如厚度、成分、摻雜劑和污染物程度。橫截面的分析則可以展示厚度、晶粒度和結晶度。

我們具備的分析手段和技術(shù):

  • AES(Auger電子能譜)
  • AFM/SPM(原子力顯微鏡)
  • EBSD(電子背散射衍射)
  • EDS(能量色散 X射線(xiàn)光譜)
  • FIB(聚焦離子束)
  • FTIR(傅利葉紅外光譜)
  • GCMS(氣相色譜質(zhì)譜)
  • GDMS(輝光放電質(zhì)譜)
  • ICP-OES/MS(電感耦合等離子發(fā)射光譜/質(zhì)譜)
  • IGA(儀器氣體分析)
  • LA-ICP-MS(激光刻蝕-電感耦合等離子質(zhì)譜)
  • LEXES(低能量X射線(xiàn)發(fā)射光譜)
  • OP(光學(xué)輪廓測定)
  • Raman(拉曼光譜)
  • RBS(盧瑟福背散射)
  • SEM(掃描電子顯微鏡)
  • SIMS(二次離子質(zhì)譜)
  • TEM/STEM(透射電子顯微鏡/掃描透射電子顯微鏡)
  • TGA/DTA(熱重分析/熱差分析)
  • TOF-SIMS(飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜)
  • TXRF(全反射X射線(xiàn)熒光光譜)
  • XPS/ESCA(X射線(xiàn)光電子能譜/化學(xué)分析電子光譜)
  • XRD(X射線(xiàn)衍射)
  • XRF(X射線(xiàn)熒光)
  • XRR(X射線(xiàn)反射)
  • ATE測試和工程服務(wù)
  • Burning/Reliability(老化/可靠性測試)
  • ESD測試和閂鎖效應測試
  • PCB設計和組裝服務(wù)
  • Circuit Edit (FIB線(xiàn)路修改和調試服務(wù))
  • Failure Analysis(失效分析)
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